M6的地方
高分辨率大面积微区光谱仪成像光谱仪
移动式微区光谱仪元素成像光谱仪
超快元素成像
高亮
2 x 60
平方毫米
SDD面积
双硅漂移探测器，可快速获取样品元素信息
80 x 60
平方厘米
可扫描面积
单次面扫描最大面积
100 - 500
μm
可调节光斑大小
五种光斑尺寸可调以便更好的匹配样品
最先进的大面积微区光谱仪元素成像技术
微区光谱仪(也称为macroXRF或MA-XRF)分析,已成为表征绘画,地质样品,考古文物和工业成分等对大型样品的重要方法。M6的地方以最高速度和精度进行微区X荧光分析。因为其具有方向可调节以可移动式支架,使得M6的地方可在现场使用,无需将部分无法运输样品送至实验室检测。
- 垂直样品或水平表面的测量
- 单次描面积高达800 x 600平方毫米
- “动态”分析,以达到最高的面扫描速度
- 可调节光斑大小以匹配样品尺寸
- XFlash®SDD技术,具有2 x 60平方毫米的探测器面积
- 可选自动对盘及成交系统系统， 以对不平整表面聚焦
优势
M6的地方能够帮您获得那哪些信息吗?
微xrf研究齿牙目恐龙的生物和地声信号，李金华等，原子光谱学2021
- 获取任意平面内元素的空间分布信息
- 在一次运行中采集整个大面积区域元素分布信息
- 将高分辨率光学图像与光谱存储在一个“HyperMap”数据集中
- 从面扫描中结果提取任意形状对象光谱、线扫描和化学相态进行进一步分析
- 使用无标准基本参数(FP)方法定量分析光谱数据
- 设备可在现场进行检测，能够有效降低成本节约时间，并且能够避免因物流等因素对贵重文物样品造成损坏
应用
规格
技术参数
| 高达100 mm / s平台移动速度 | 面扫描以“动态”方式进行,单个像素点停留时间可低至1毫秒 | ||
| 30平方毫米或60平方毫米SDD,≤145 eV | M6的地方可配备不同的力量XFlash (R)探测器,所有探测器分辨率均在Mn Kα≤145 eV | ||
| 测量模式下的倾斜角度可为±10° | 设备除了支持在水平和垂直方式测试外，设备还可以精细倾斜角度，以适应不同角度样品测试 |
