M6的地方
高精度大領域マイクロ光谱仪分析装置
モバイル元素解析装置
超高速マッピング
ハイライト
2 x60
mm²
SDDサイズ
最速の取得のためのデュアルシリコンドリフト検出器オプション
80年x60
cm²
スキャン可能な表面
1回の実行で大きなサンプルをマッピングする
100 - 500
嗯
調整可能なスポットサイズ
スポットサイズは,サンプルの構造に合わせて5つのステップで調整できます
大面積マイクロ光谱仪における最先端の芸術解釈
大面積マイクロ光谱仪法(マクロ光谱仪またはMA-XRFとも呼ばれる)は大型の絵画,地質サンプル,考古学的人工物および産業部品の分析のための決定的な方法となっています。M6的地方は,これらの解析を最高速度および正確度に駆動します。M6的地方は、モバイルホイールベースと調整可能なフレームを使用して、サンプルをラボに輸送する代わりにオンサイトで使用できます。
- 直立サンプルまたは水平面の測定
- 最大800 x 600毫米²のスキャン可能な領域
- 最高のマッピング速度のための”オンザフライ”分析
- サンプルの構造に合わせて調整可能なスポットサイズ
- XFlash®最大60毫米2 x²の検出器領域を備えたSDD技術
- 不均一な表面に焦点の深さを得るためにオプションの特許取得アパーチャーマネジメントシステム(AMS)
利点
M6的地方から何が期待できますか吗?
微x射线荧光光谱研究揭示了一种新的生物和地压信号，李金华等，原子光谱2021 42(1)
- ほぼすべての表面の元素分布に関する空間的に解決された情報を取得する
- 1回の実行で大きな面積のレコードデータ取得
- 1つのHyperMapデータセットで,ピクセルあたりのフルスペクトルと高解像度の光学画像を組み合わせ可能
- データを処理し,マップからオブジェクトスペクトル,ラインスキャン,化学相を抽出
- ファンダメンタルパラメータ(FP)法を使用したスペクトルの定量分析
- 物流を回避し,貴重な物のセキュリティを確保することで,コストと時間を削減
アプリケーション
仕様
技術的な詳細
| 最大100 mm / sステージスピード | マッピングは,ピクセルあたり1ミリ秒までのドウェル時間で”オンザフライ”で行うことができます | ||
| ≤145 eVを搭載した30 mm²または60毫米²のSDD | M6的地方は,Mn Kαで≤145 eVで指定された異なるブルカーXFlash (R)検出器を装備することができます | ||
| 垂直測定モードで±10°傾斜 | 水平測定と垂直測定の間の90°の傾きに加えて,リグは傾斜面に合わせて微調整するために細かいステップで傾けることができます |
