微型X射线荧光光谱仪

M6 JETSTREAM

高清晰度大面积微型XRF扫描仪

移动元素分析

超快速映射

Bruker M6 JETSTREAMµ-XRF光谱仪,高清晰度大面积宏观XRF扫描仪

纳杰瓦·尼耶泽信息中心

2x60
平方毫米
SDD尺寸
双硅漂移检测器选项,实现最快采集
80x60
厘米²
可扫描表面
在一次运行中映射较大的样本
100-500
µm
可调光斑尺寸
斑点大小可分五步调整,以匹配样品的结构

大面积微型X射线荧光光谱仪的发展现状

大型样品上的微XRF(也称为Macro-XRF或MA-XRF)已成为分析绘画,地质样品,考古工件和工业部件的决定性方法。必威东盟体育M6 JetStream将这些分析驱动到最高速度和准确性。使用其移动轴距和可调节框架,可以在现场使用M6 Jetstream,而不是将样品运送到实验室。

  • 测量立式样品或水平表面
  • 可扫描面积高达800 x 600 mm²
  • 最高绘图速度的“动态”分析
  • 可调节的点尺寸以匹配样本的结构
  • XFlash®SDD技术,探测器面积高达2 x 60 mm²
  • 可选孔径管理系统(AMS)在凹凸不平的表面上获得聚焦深度

Korzyści.

您对M6 JETSTREAM有什么期望?

Troodontid恐龙Jianianhualong Tengi的显微XRF研究揭示了新的生物和埋藏信号,Jinhua Li等人,原子光谱2021 42(1)
  • 获取几乎任何表面元素分布的空间解析信息
  • 在一次运行中记录大面积数据
  • 将高分辨率光学图像与每像素全光谱图像组合在一个HyperMap数据集中
  • 处理数据并从地图中提取目标光谱、线扫描和化学相
  • 使用无标准基本参数(FP)方法量化光谱
  • 通过避免物流和确保贵重物品的安全,减少成本和时间
探索mico XRF样品的广泛范围

特殊情况

技术细节

高达100毫米/秒的阶段速度 映射可以“动态”进行,停留时间可降至每像素1毫秒


30mm²或60mm²SDD带≤145电子伏 M6 JETSTREAM可配备不同的Bruker XFlash®探测器,所有探测器均指定为≤mnkα下的145ev

垂直测量模式下的±10°倾斜 除了水平和垂直测量之间的90°倾斜外,钻机还可以精细倾斜,以适应倾斜表面