XRF艺术和保护中的数据处理 - ESPRIT的高级功能显示
该网络研讨会于2021年9月23日举行
研究艺术对象的元素组成
X射线荧光（XRF）测量值被广泛认为是在保护，恢复，身份验证过程中或在解决艺术对象的历史性问题时进行诊断的关键步骤。
硬件功能和仪器的性能只是数据采集的第一步。为该仪器设计的软件包使用户能够从获得的数据中提取其他信息。我们想将这种数据处理方法带到中心舞台。
最近发布的ESPRIT RELADE软件是一种易于使用的工具，可为元素组成的研究提供广泛的功能 - 不仅提高了定性信息，而且还提供了可靠的定量数据计算。
在本网络研讨会中，我们从最近介绍ESPRIT揭示的核心功能的介绍中，将重点转移到支持高级元素识别和量化的最进化和复杂的功能。
由NunoGonçalves绘制的圣文森特面板（公元1450年左右）
Alyattes Gold Coin（公元前610 - 561年左右）
谁应该参加？
- 文化遗产的研究人员，专业人士和学生进行XRF分析
- 考古学家或艺术科学家在文化遗产地点工作
- 那些有兴趣扩大对Micro-XRF对工件分析的理解的人
演讲者
HenningSchröder博士
产品经理Micro-XRF，Bruker Nano Analytics
罗尔德·塔格尔博士
高级应用科学家Micro-XRF，Bruker Nano Analytics
米歇尔·吉伦达（Michele Gironda）
市场部门经理艺术与保护，Bruker Nano Analytics
*注册表已针对浏览器Google Chrome进行了优化。两次会议的内容都是相同的。
