薄膜和涂层的元素分析

使用FTIR光谱对薄膜和涂层进行化学识别的方法有很多，包括透射率、衰减全反射（ATR）、加厚角反射（GIR）或红外反射吸收光谱（IRRAS）、偏振调制IRRAS(皮米拉斯)。根据薄膜厚度、光学特性和支撑基板，可优先采用不同的测量模式。

金属涂层用作环境屏障，有效保护底层材料不受降解。在工程和建筑材料中，金属涂层用于结构金属和合金。在光学设备中，金属涂层用作前照灯反射器的镜子和镀银。金属涂层也存在于日常物体中，如作为眼镜、器皿、手表、珠宝和玩具。这些涂层的性能在很大程度上取决于其厚度、晶体结构、化学成分和机械耐久性。Bruke必威手机客户端r为电子显微镜提供了广泛的分析工具，或作为独立工具来促进此类涂层的开发。例如微X射线荧光用于定量分析金属多层堆叠的成分和涂层厚度。以及电子显微镜分析仪（EDS、EBSD、WDS）用于快速可靠的定量化学和结构分析。

纳米材料必威手机客户端通常在透射电子显微镜（TEM）中进行研究。然而，借助扫描电子显微镜（SEM）的大视场可以定量表征纳米材料轴上TKD这项技术正是为了实现这一目标而发展起来的；它现在是一种成熟的基于SEM的方法，使用EBSD硬件在纳米尺度上进行取向分布测量。在这个应用示例中，使用电子闪光涂有黑漆的探测器擎天柱TKDFEG-SEM中的头部。在低探针电流（<3 nA）下实现高速TKD测量，允许克服束流漂移并实现超高空间分辨率：在20分钟内测量了1000多个晶粒，最小晶粒尺寸为20 nm，并解决了孪晶界等超细特征（3 nm）。