薄膜和涂层的元素分析“，

利用红外光谱技术对薄膜和涂层进行化学鉴别的方法有很多种。它们是透过率、衰减全反射(ATR)、grace角反射(GIR)或红外反射吸收光谱(iras)、偏振调制iras (PMIRRAS)．根据薄膜厚度、光学性质和支撑基板的不同，可优先应用不同的测量模式。

金属涂层被用作环境屏障，积极地保护底层材料免受降解。在工程和建筑材料中，它们被应用于结构金属和合金。必威手机客户端对于光学器件，它们被用作前照灯反光镜和镀银。金属涂层也存在于日常用品中，如眼镜、器皿、手表、珠宝和玩具。这些涂层的性能在很大程度上取决于其厚度、晶体结构、化学成分和机械寿命。布鲁克提供了广泛的分析工具的电子显微镜或作为独立的，以促进这类涂层的发展。例如与micro-XRF用于定量分析金属多层叠层的成分和涂层厚度。和电子显微镜分析仪(EDS, EBSD, WDS)用于快速可靠的定量化学和结构分析。

纳米材料必威手机客户端通常用透射电子显微镜(TEM)进行研究。然而，利用扫描电子显微镜(SEM)的大视场可以定量表征纳米材料。必威手机客户端的轴上跆拳道为此目的发展了技术;现在，它是一种基于扫描电镜的方法，使用EBSD硬件在纳米尺度上进行定向分布测量。在这个应用实例中，我们测量了金和铂薄膜的取向分布e-Flash FS探测器retroffited与擎天柱跆拳道用FEG-SEM扫描头部。在低探针电流(<3 nA)下实现了高速TKD测量，克服了束流漂移，实现了超高的空间分辨率:在20分钟内测量了1000多个晶粒，最小晶粒尺寸为20 nm，孪晶界等超细特征被分辨(3nm)。