岩心扫描矿产勘查

非破坏性的岩心元素和矿物测井为识别甜点、矿化和蚀变提供了客观的高分辨率分析数据。Bruker便携式和手持分析仪用于在野外或岩芯窝点收集深度记录的地球化学和矿物数据。这些数据的高分辨率特性意味着，即使是较小的矿化或蚀变远景带也可以在不稀释的情况下识别出来，从而改善了矿石系统的远端识别。现场数据收集提供近瞬时地球化学，可用于:

• 目的和快速鉴定矿物和矿物组合
• 确定主要目标和指标要素的趋势
• 根据矿化或改变描绘目标区域
• 岩心地球化学参照提高了与其他孔的相关性
• 钻井计划的实时指导，优化钻孔放置并减少查找和完全表征存款所需的孔数
• 高分辨率初级等级鉴定，减少送往化验实验室的裸眼样品数量
  

核心中主要，核心和微量元素的空间分布的可视化喂养了对矿化和改变过程的理解。Micro-XRF在小于<20μm的分辨率下提供大样本地球化学映射，可以在地质过程框架内容中容化功能。向Micro-XRF添加自动矿物质是一种新兴领域，可以增加快速和可重复的岩画性表征的新尺寸。核心分析Bruker的M4龙卷风可设置系列仪器进行现场或岩芯棚内的快速数据采集:

• 快速扫描基本制备表面的样品材料，不需要样品涂层或抛光
• 采用基于数据的方法为需要更昂贵的样品制备的方法选择采样地点
• 矿化和蚀变的快速评估，以约束概念性勘探模型的持续近实时迭代
• 通过在可比尺度上测量元素浓度，为高光谱技术提供“地面实况”和补充数据

许多矿化过程留下微米级的记录。扫描电子显微镜(SEM)表征是最精确的方法，可用于可视化和分析在这个规模的过程。Bruker的自动化矿物学和大面积元素制图解决方案由自动化EDS具有反向散射选举（BSE）成像的X射线映射，在缩小至约1μm的分辨率下提供详细分析。点击此处了解有关岩石表征的更多信息，用于微观分析。

传统的岩石矿物分析是在2D中观察3D世界。在光学显微镜、扫描电子显微镜和微xrf中分析薄片和芯板都需要从单个平面外推来理解三维物体。对岩心的高分辨率3D x射线显微镜研究允许对三维进行非破坏性观察。力量的Skyscan系列x射线显微镜与其他方法一起工作，产生关于地质特征的形状、大小和相互关系的详细信息。当与来自SEM或micro-XRF的自动化矿物学相结合时，就有可能在微米尺度上建立完整的矿石分布模型，更好地定义矿化过程，并预测粉碎和其他处理行为。