XRF是如何工作的?

样本被x射线轰击。这激发了样品产生x射线荧光。x射线将单个电子从元素的原子中“射”出来，主要是从原子内部的能级K和能级l中射出来。由此产生的空位又被来自高能能级的电子所填满。

这些电子的多余能量随后以x射线荧光辐射的形式释放出来。这种辐射是每个元素的特征，就像指纹一样，独立于原子的化学键。辐射强度与样品中元素的浓度成正比。

在波长色散x射线荧光(WDXRF)的情况下，各元素在最佳测量条件下进行了分析。

为此目的，针对浓度范围设置单独的测量参数组合，并防止线重叠:

x射线源和一次辐射过滤器保证样品中的每个元素都是最佳激发的。

口罩可以切断不必要的信号，例如样品杯上的信号。

真空密封将样品室与测角器室隔开。在加载过程中，密封关闭，测角器腔保持在真空状态。因此，只需要对小体积的样品室进行固体抽真空或对液体用氦气冲洗。在液体测量期间，真空密封保持关闭，以保护组件在泄漏的情况下，安全氦气和提高稳定性。

准直器用于提高分辨率。

分析仪的晶体起着至关重要的作用。他们将多频率荧光光谱分解为元素的特定波长。这种信号分离对WDXRF的高分辨率和高灵敏度至关重要。

最后是探测器:对于轻元素的探测使用比例计数器，对于重元素使用闪烁计数器。两个探测器都非常适合于各自的能量范围。

S2 PUMA与HighSense^TM该技术使用50 w端窗x射线管直接激发样品中的x射线荧光。

通过设置x射线管的高压，选择滤料，选择能量范围。

带有多通道分析仪的硅漂移探测器检测x射线荧光辐射，并积累计数，形成样品的强度与能谱。

具有低能荧光的较轻元素可以通过氦气冲洗样品室或用真空泵抽走样品室进行分析。