XFlash 6 t - 100椭圆形
用于STEM的高采集角EDS系统
面积大，采集角度高，无窗EDS带有100毫米椭圆形探测器2SDD是精心定制的每一个合适的极片几何。独特的形状和最先进的细线设计，允许优化采集几何非常具体的改造条件，以及。
在超过13°的起飞角下，x射线收集的立体角可以达到0.7 sr，提供了原子柱元素映射和单个杂原子识别[1,2]。
［1］室温多铁质材料中磁性离子分配的原子尺度直接测定(开放)
科学报告7，(2017)文章编号:1737;作者:L. Keeney等。
[２]用x射线光谱鉴定单个杂原子(开放)
应用物理快报第108卷第16期163101 (2016);作者:R. M.斯特劳德、T. C.洛夫乔伊、M. Falke、N. D. Bassim、G. J. Corbin、N. Dellby、P. Hrncirik、A. Kaeppel、M. Noack、W. Hahn、M. Rohde和O. L. Krivanek
总之，XFlash®6T-100椭圆形提供以下优点:
- 100毫米2区,没有窗户
- 固体收集角度高达0.7 sr，适应变化
- 起飞角度可达13.4°，适应变化
- 特高压兼容
- X-ray-tight快门
- 互不干扰的冷却系统
- 优异的低能耗性能，需要分析轻元素和重叠的L-， M-，…在低能区的高Z元素线
- 布鲁克多才多艺的所有优点分析软件
XFlash的建议应用领域®6 t - 100椭圆是:
TEM和STEM中的EDS高端元素分析，包括校正像差的电子显微镜，旨在:
- 原子分辨率
- 高速数据采集
- 微量元素分析