XFlash 6 t-60
größerer aktiver Fläche für TEM-Analytik im nm-Bereich und darunter
Der XFlash 6T-60 Detektor
上面的verwendette SDD mittlerer Größe, mit einer aktiven Fläche von 60毫米2， der in einem slimline Detektorfinger montiert ist, ermöglicht bei乘客几何einen größeren Raumwinkel的30毫米2-Detektor，然后我把它转到100毫米2-Detektor和das weiterhin hohem Abnahmewinkel。Der XFlash®6T | 60 ist insbesondere für Messungen mit geringe Röntgenausbeute geeignet。所以z.B. für原子光谱测量法Auflösung在这个实验中，我们可以用它来测量我们的探针，所以für这个探针(Polymere, biology, andere C-haltige, wie z.B. Graphen)。Mit 126 eV bei Mn-Kα bietto Detektor eine sehr Energieauflösung。
大家都很高兴见到XFlash®6 t-60 folgende Vorteile:
- Sehr gute Energieauflösung (126 eV bei Mn-Kα， 51 eV bei C-Kα， 60 eV bei F-Kα erhältlich)
- Weitere lieferbare Auflösung: 129 eV bei Mn-Kα
- Verarbeitung hoher Zählraten, hohe impulse belastbarkeit
- Ausgezeichnete Leichtelement- and niedriigenergy - performance (Gesamtdetektionsbereich: Be - Am)
- Geschweißter Faltenbalg für Vakuumtauglichkeit
- Vibrationsfreie Detektorkuhlung
- 别再给我这个机会了
- Wartungsfreier Betrieb
- Niedrige Betriebskosten
- Kleine Abmessungen, Detektorfinger im Slim-line Design
- Geringes重量
- Fensterlose Anfrage版本
Empfohlene Einsatzgebiete für den XFlash®6 t-60信德:
- 在TEM, STEM和T-SEM (STEM im REM)中进行EDS-Analytik的变异分析，这是一个ß ß ß ß ß异常的电子信号