XFlash 6 t-60

用于纳米尺度及以下TEM分析的大固体角SDD
XFlash 6 t-60探测器

安装再细管径探测器手指上的60毫米2中等有效面积探测芯片可提供较大的固体角和高检出角。因此,XFlash®6 t-60非常适合X射线产量相对较低的应用,例如具有原子分辨率能谱面分析,必须保留晶带轴且样品不能倾斜的实验以及束流敏感标本(例如石墨烯、生命科学)。该探测器还提供非常好的能量分辨率,在Mn Kα时为126 eV。

总结起来,XFlash®6 t-60具有以下优点:

  • 良好的能量分辨率(Mn Kα为126 eV, ckα为51 eV, F Kα为60 eV)
  • 其他可用分辨率为Mn Kα的129 eV
  • 极高的脉冲负载能力
  • 出色的轻元素和低能端检测性能(是-我元素范围)
  • 焊接波纹管作为标配
  • 简单,无震动设计的冷却系统
  • 打开电源后立即可用
  • 低运行成本
  • 免维护操作
  • 小尺寸,包括细管径技术
  • 重量轻
  • 可应要求提供无窗版本

XFlash 6 t-60的应用建议领域包括:

  • TEM和茎上的低X射线产量应用,包括球差校正电子显微镜