Xflash 6T-60

用于NM级和下面的TEM分析的大型实心SDD
Xflash 6T-60检测器

媒体有效面积60毫米2安装在细线探测器手指中的芯片提供了大的实心角度和高飞角。Xflash.®因此,6T-60非常适用于具有相对低的X射线产率的应用,例如用于原子分辨率光谱法,必须保持区域轴线的实验,并且样品因此不能倾斜,以及光束敏感标本(例如石墨烯,生命科学)。探测器还通过MnKα的126eV提供非常好的能量分辨率。

总之,Xflash®6T-60提供以下优点:

  • 良好的能量分辨率(MnKα的126eV,51eV在CKα和60eV上可用)
  • 其他可用的分辨率是MnKα的129eV
  • 极高的脉冲负载能力
  • 优异的轻质元件和低能量性能(元素范围是 - AM)
  • 焊接波纹管作为标准
  • 没有振动产生冷却系统
  • 电源后立即可用
  • 免维护操作
  • 低运营成本
  • 小尺寸,包括纤维线技术手指
  • 低重量
  • Windowsless版本可根据要求提供

建议Xflash的申请领域®6T-60是:

  • 低X射线产量在TEM和茎上的应用,包括像差校正的电子显微镜