XFlash 6 t-60

纳米尺度及以下透射电镜分析的大实心角SDD
XFlash 6T-60探测器

中等活性面积60毫米2芯片安装在一个细线探测器手指提供了大的实心角度和高起飞角。的XFlash®因此,6T-60对于x射线收率相对较低的应用非常理想,例如原子分辨光谱法,必须保持区域轴,因此样品不能倾斜的实验,以及束敏样品(例如石墨烯、生命科学)。该探测器还提供了非常好的能量分辨率126ev在Mn Kα。

总之,XFlash®6T-60具有以下优点:

  • 良好的能量分辨率(Mn Kα为126 eV, C Kα为51 eV, F Kα为60 eV)
  • 其他可用的分辨率是129ev在Mn Kα
  • 极高的脉冲负载能力
  • 优良的轻元素和低能性能(元素范围Be - Am)
  • 标准焊接波纹管
  • 没有产生振动的冷却系统
  • 上电后立即可用
  • 不需维护的操作
  • 低运营成本
  • 小尺寸,包括纤细的科技手指
  • 低体重
  • 无窗版本可要求

XFlash的建议应用领域®6 t-60是:

  • 低x射线产率在TEM和STEM上的应用,包括像差校正电子显微镜