HochauflösendeEds-Elementverteilungsbilder Eines Meteoriten

MeteoritenProben Sind Einzigartig und Werden Vorzugsweise MitZerstörungsfreien方法Analysiert，Um Ihren Originalzustand and Zu Erhalten。Wenn mikroskopische Untersuchungen von unveränderten Oberflächen im Fokus der Forschung stehen, sind die üblichen Probenvorbereitungsschritte für die REM-basierte EDS-Analyse wie Schneiden, Schleifen, Polieren und Kohlenstoffbeschichtung strikt ausgeschlossen.

herkömmlicheeds-detektorenstoßenuntersolchenumständenschnell an ihre grenzen，insbesondere wenn eine hohe hoheräumlicheauflicheauflösungbei bei der andarytik erallytik eralforderlich ist。Da Proben Von Steinmeteoriten NichtLeitfähigSind和Eine RaueOberflächeBesitzen，Stellen Aufladungs- undSchatteneffektegroßeHerausforderungenbei der dar dar。

Um DieseEinschränkungenZuüberwinden，Steht Mit DemXflash^®扁平EineHochmoderneLösungZurVerfügung。dieser einzigartige，ringförmigeeds-detektor wird direkt unter dem polschuh和dem polschuhundüberder prope platziert，ähnhlicheinem bse-detektor。der xflash^®flatquad Zeichnet Sich Durch Eine Extrem HohesevitutätAus，Selbst Unter Analytischungünstigenbedingingungen Mit Mit GeringstenStrahlstrorströmen。Durch SeineBauartKönnenschatteneffekte minimiert和somit perfekte elementverterveilungsbilder selbst von rauen，unbeschichteten proben proben wie wie eteoriten aufgenommen werden。

Das Vorliegende Beispiel Zeigt den Mocs Meteoriten，Ein Historischer Fall VOM 2. 1882年2月在Ungarn，位于Wien（NHM）ZurVerfügungGestellt Wurde的Der Vom Naturanthistorischen博物馆。Mit Hilfe desXflash^®扁平IstesMöglich，HochauflösendeElemente elementvertebilsbilder auch Innerhalb TieferHohlräumeHohlräumeBeiniedrigtsenstrahlströmenZu Zu Erfassen und dard dard dard damit zur zur aeretenforschung beizungchung beizutragen。（Salge等人，EMAS 2018-地球科学中的微束分析，布里斯托尔，英国，第16页）