陨石标本的高分辨率x射线元素制图

陨石样品稀少而珍贵，最好采用非破坏性方法进行分析。当原始表面的微观研究是研究的重点时，常见的sem -基于EDS分析的样品制备步骤，如切割、研磨、抛光和碳涂层被严格排除。

传统的EDS探测器在这种情况下面临局限性，尤其是在需要高空间分辨率的情况下。矿物学陨石标本不导电且具有地形性，带电和遮蔽效应是其面临的主要挑战。

为了克服这些限制，可以使用XFlash^®FlatQUAD．这种独特的环形EDS检测器直接放置在样本上方，类似于疯牛病检测器。它的特点是对低x射线产生极高的灵敏度，最大限度地减少任何阴影效应，因此是绘制粗糙的、非涂层样品(如陨石)的完美工具。

我们调查了Mocs陨石，它是1882年2月2日在匈牙利的一次历史性坠落，由维也纳自然历史博物馆(NHM)提供。的应用XFlash^®FlatQUAD它甚至能在深空腔内对元素组成进行高分辨率测绘，从而为宇宙物质的演化提供了线索。(Salge et al.， EMAS 2018 -地球科学中的微束分析，Bristol，英国，第16页)