高分辨率X射线元素映射的陨石样品

陨石样品很少见，因此优异，最好通过非破坏性方法对其进行分析。当对原始表面的微观研究是研究的重点时，严格排除了基于SEM的EDS分析（例如切割，研磨，抛光和碳涂层）的常见样品制备步骤。

在这种情况下，常规的ED探测器正面临局限性，尤其是在需要高空间分辨率的情况下。由于矿物质陨石样品是非导电和地形的，因此充电和阴影效果是主要挑战。

为了克服这些限制，可以使用最新的解决方案Xflash^®扁平。这种独特的环形EDS检测器直接放置在类似于BSE检测器的样品上方。它的特征是对低X射线产量的灵敏度极高，最大程度地减少了任何阴影效果，因此是绘制粗糙，非涂层样品（如陨石）的理想工具。

我们调查了MOCS陨石，这是1882年2月2日在匈牙利的历史性秋天，由维也纳自然历史博物馆（NHM）提供。应用Xflash^®扁平由于其能够在深腔内进行高分辨率映射的能力。（Salge等人，EMAS 2018-地球科学中的微束分析，布里斯托尔，英国，第16页）