使用环形硅漂移探测器快速，准确和精确的定量结果：布鲁克的Xflash Flatquad

硅漂移探测器（SDD）已成为能量分散X射线光谱的标准仪器（eds）使用扫描电子显微镜（SEMS）和电子探针微分析仪（EPMAS）。环形SDDXflash^®扁平是一个独特的SDD，插入了极点和样品之间，而不是在SEM的倾斜端口中。因此，它具有较大的实体角（1.1 SR），通常在常规设置中使用10mm²SDD可用的实体角度大100倍。X射线是从四个单独的检测器段收集的，并通过四个检测单元并行处理信号，允许在低死亡时间时高计数率，导致最高输出计数率超过2,400,000次，高度计数（CPS）的高计数。速度映射和快速频谱收集。另外，这种几何形状可最大程度地减少阴影效应，因此非常适合分析地形复杂，三维和梁敏感样品。即使在最低的束电流（<10 pa）下，在自然状态下的高真空度下，也可以研究未涂层的，束敏感和非导电样品。

在本网络研讨会中，我们将使用Xflash^®扁平对于快速和可靠的量化结果，包括标准和标准的自由量化方法。将使用其他分析技术将结果与已知已发布的结果进行比较。此外，还将显示高速映射的示例，例如具有高地形的光束敏感样品，或者如何在几分钟内映射完整的薄截面。

• 对SEM的EDS技术感兴趣的所有分析领域的科学家
• 研究人员使用地形复杂，三维和光束敏感样品