快速，准确和精确的定量结果使用环形硅漂移探测器:布鲁克的XFlash FlatQUAD

硅漂移探测器(SDDs)已成为能量色散x射线光谱学(EDS)，采用扫描电子显微镜(sem)和电子探针微量分析仪(EPMAs)。环形SDDXFlash^®FlatQUAD是一种独特的SDD，插入极片和样品之间，而不是在扫描电镜的倾斜端口。因此，它有一个大的实心角度(1.1 sr)，这通常是100倍于使用10 mm²SDD在传统设置的实心角度。x射线从四个独立的检测器片段收集，信号由四个检测单元并行处理，允许在低死时间的高计数率，导致最高输出计数率超过每秒240万计数(cps)，用于高速绘图和快速光谱采集。此外，这种几何形状最小化了阴影效果，因此非常适合分析地形复杂、三维和光束敏感的样品。即使在最低的束电流(<10 pA)，未涂层、束敏和不导电的样品可以在高真空自然状态下进行研究。

在本次网络研讨会中，我们将展示使用XFlash^®FlatQUAD为快速和可靠的量化结果，包括标准的和无标准的量化方法。这些结果将使用其他分析技术与已知的已发表的结果进行比较。此外，还将介绍高速绘图的例子，例如具有高地形的光束敏感样品，或如何在几分钟内绘制完整的薄片。

• 来自所有分析领域的科学家对扫描电镜的EDS技术感兴趣
• 研究人员使用地形复杂、三维和光束敏感的样品