SEM的半导体的纳米结构表征

该网络研讨会将讨论使用扫描电子显微镜（SEM）与能量色散X射线光谱法（SEM）的纳米结构半导体材料的定量表征（必威手机客户端eds）和传输kikuchi衍射（TKD）技术。

我们将使用FEG-SEM研究多层半导体材料的微结构和元素组成。必威手机客户端这些薄的多层的晶体学信息可用于预测或增强此类设备的物理，化学，界面和电子特性。然而，他们的晶体学研究具有挑战性，因为这些材料具有具有超细晶粒尺寸的复杂和异质结构，并且具有电子束敏感。必威手机客户端在这里，我们提供了使用传输方向对比度成像和与SEM映射的好处。使用CPU，SSD和CIGS太阳能电池上的应用示例，我们演示了轴上TKD技术的分析能力，以表征纳米级的半导体多层。

本网络研讨会将以15分钟的问答环节结束，我们的专家将回答您的问题。

• 对纳米结构材料表征感兴趣的所有级别的SEM用户必威手机客户端
• FIB/SEM显微镜对高级分析技术感兴趣

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