RADS软件
实现快速准确XRD测量分析的软件
Bruker RADS是业界最可靠的软件，用于模拟和分析单晶衬底上外延薄膜结构的高分辨率X射线衍射（HRXRD）数据。它是研发、生产和学术界对简单和复杂结构进行详细分析的首选软件。
RADS软件为用户提供了多种工具，可实现准确、快速的XRD测量分析。通过自动计算工艺参数，并立即处理反馈给生产，RADS软件从头开始设计，以改进工艺和产量结果。自1991年以来，这种独有的功能组合使RADS成为领先的过程监控和分析软件。
新功能
- 主题GUI，允许用户选择程序的外观和感觉（Bede、Jordan Valley和两者的混合）
- 增加了对粘结SOI基板的支撑
- 增强了缺陷散射模型，包括马赛克模型以及离子注入引起的随机原子位移效应
- 允许使用公共结构模型同时拟合来自不同反射的两个测量数据集
- 包括显示各种参数（如合成）的深度剖面的能力
- 可以以HTML、PDF、RTF和各种其他格式创建打印报告
- 改进的批处理能力
- 支持多核处理器，并能够分配给任何特定的核心/CPU。
规格
- 采用X射线衍射动力学理论（Takagi Taupin）进行精确模拟
- 使用现代处理器上可用的SSE2/3指令进行快速模拟。在同一台计算机上，模拟和拟合的运行速度将比v3.x快约3-4倍。
- 包括用于多层结构可靠自动分析的专利数据拟合技术
- 使用层（包括超晶格）的电子表格样式列表轻松创建模型结构
- 允许使用层参数方程指定任意成分和应变剖面
- 简化复杂多层结构分析的层参数链接
- 广泛的内置和材料数据库，也可以用户自定义必威手机客户端
- 在非001立方材料上模拟外延，例如（110）和（111）取向衬底必威手机客户端上的层；还支持basel平面（c平面）定向六边形材料
- 模拟真实的仪器条件
- 复杂的科学绘图和输出能力
- 支持多种数据文件格式（包括Jordan Valley、Bede、Bruker、PANalytical）
- 支持将拟合结果写入关系数据库
- 多个实验数据文件的批处理分析
- 提供集成的宏语言和强大的自动化功能
- 支持Windows XP、Vista和7
