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硅中碳和氧的红外光谱分析具有快速、灵敏、无破坏等优点,是一种广泛接受的硅质量控制方法。Bruker在这一领域拥有数十年的经验,并提供最强大和最新的解决方案。
基于研究系列光谱仪的解决方案:
溶液基于CryoSAS低温Si分析仪
基于SiBrickScan硅锭分析仪的解决方案:
优化了全硅锭间隙氧的FTIR定量在线系统,实现了生产初期的成本节约。
专用低温硅杂质分析一体机系统。优化了光伏和电子行业的质量控制。
高端真空或吹扫光谱仪提供最大的性能和最高的灵活性可调的特殊需求,在苛刻的研究领域。