硅半导体x射线计量
Bruker为薄膜计量提供世界上最先进的非破坏性x射线技术解决方案。我们的表征解决方案涵盖了逻辑和内存处理的全部范围。我们提供专门的系统来识别衬底缺陷，执行epi薄膜和高k介质的前端线控制，以及分析金属膜和晶圆级封装凸起的专用仪器。这些系统还经常用于硬盘驱动器材料、硅上氮化镓功率晶体管、PZT薄膜成分和相位监测等其他半导体计量应用。必威手机客户端
支持
我们如何提供帮助?
Bruker与我们的客户合作，解决现实世界的应用问题。我们开发下一代技术，帮助客户选择正确的系统和配件。这种合作关系通过培训和扩展服务持续下去，直到工具出售。betway手机客户端下载
我们训练有素的支持工程师、应用科学家和主题专家团队完全致力于通过系统服务和升级，以及应用支持和培训来最大化您的生产力。betway手机客户端下载