用于硅半导体的X射线计量学
Bruker为薄膜计量学提供了世界上最先进和最大破坏性的X射线技术解决方案。我们的表征解决方案涵盖了逻辑和内存中的全部处理。我们提供专门的系统，用于识别EPI膜和高K介电的线路控制的底端缺陷，以及用于分析金属膜和晶圆级包装颠簸的专用仪器。这些系统还常规地执行其他半导体计量应用程序，用于硬盘驱动材料，SI功率晶体管上的GAN以及PZT膜组成和相位监测。必威手机客户端
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我们能帮你什么吗？
Bruker与我们的客户合作解决了现实世界中的应用程序问题。我们开发下一代技术，并帮助客户选择正确的系统和配件。在工具出售工具很久之后，这种合作伙伴关系继续通过培训和扩展服务。betway手机客户端下载
我们训练有素的支持工程师，应用程序科学家和主题专家团队全力致力于通过系统服务和升级以及应用程序支持和培训来最大化您的生产率。betway手机客户端下载