油气勘探需要加强科学调查,识别油气聚集,降低勘探开发风险。超深井时代、非常规油气时代、盐下勘探时代、极端环境前沿勘探时代,都需要新的油气系统要素研究工具。Bruker的储层表征和化学地层学工具包括从盆地到孔隙尺度的岩石组成可视化和表征能力。
化学地层学是利用沉积序列化学成分的变化来:
了解盆地或野外尺度的相关关系
确定在古生态重建中使用的元素代用指标
有助于建立层序地层格架
识别用于钻探和编译的岩石的物理特性
Bruker为岩心和岩屑的元素和化学分析提供了工具,使化学地层学变得简单和可扩展。点击下面了解更多关于将化学地层学应用于任何规模的项目。
元素分析是油田和石油地质学家表征和识别含油气地层的重要工具。钻屑、泥浆或岩心可以通过x射线荧光(XRF)进行分析。
台式的S2彪马系列2通过使用能量色散XRF (EDXRF),可在移动实验室对准备好的钻屑进行低检测。
实验室的专业和痕迹分析最好是通过地板站立的方式进行S8老虎系列2波长色散XRF (WDXRF)光谱仪使用GEO-QUANT包或自定义校准。
的CTX是一款紧凑的便携式工作台面XRF,非常适合钻机作业,具有电池备份,按键式操作,防泄漏坚固的铝外壳和安全联锁盖。现在可以使用MUDROCK矩阵匹配校准、通用GeoEXPLORATION校准或自定义校准。
的示踪剂5克是用于岩心、露头或岩屑的理想便携式XRF。使用氦冲洗和石墨烯窗口,它在手持设备中具有最佳的轻元素性能。当与MUDROCK校准或定制的基质匹配地层校准配对时,它是油气行业最值得信赖的便携式XRF。
关于沉积物或地层的矿物组成的附加信息可以通过x射线衍射(XRD)来提供。XRD通过晶体结构来区分具有相同或相似化学成分的矿物。它不仅允许矿物的鉴定用DIFFRAC。伊娃但也提供了使用Rietveld方法的无标准量化。甚至非晶相也可以用这种方法定量。它能够精确定位潜在储层和宿主地层。其主要优点是样品制备简单、快速。钻削分析可以在移动实验室中使用布鲁克的台式电脑完成D2移相器.在实验室环境中D8努力或者是D8提前是最佳选择。
储层表征模型包含了与油气储存和生产相关的岩石特征。Bruker的创新岩石表征工具可以在沉积岩中提供新的信息类型:
沉积岩的可视化地球化学,包括元素和分子分布的可视化
从微米到纳米尺度的矿物地图,包括结合将2D数据转换为3D数据的方法
孔隙和渗透率的二维和三维可视化表征,包括页岩中的纳米达西孔隙和砂岩中的复杂孔隙网络
下面是储层表征方法的概述。联系Bruker的油气专家,讨论任何分析需求,并寻求最佳解决方案。
孔隙度和渗透率的认识对于油气储层表征、沉积学、水文地质和地下水研究具有重要意义。XRM可以对孔隙、孔径分布以及开放与封闭孔隙网络进行表征和可视化。这些信息可以对油气生产模型、气或水驱、模拟研究、污染流模拟、变形实验和沉积岩石学产生深远的影响。
页岩反应性分析通常涉及多种分析技术,包括但不限于x射线衍射、x射线荧光、伽马测井、光学显微镜、电子显微镜、总有机含量和阳离子交换容量。从矿物学的角度来看,XRD被广泛认为是一种有利的技术,特别是在元素相似相之间的鉴别。
例如,赤铁矿(Fe2O3)和菱铁矿(FeCO3)具有相似的元素特征,但不同的衍射模式。在井筒的垂直段和水平段,通常都能获得衍射数据。通过对垂直剖面的分析,可以识别出具有理想物理性质的地层。在非常规油气藏的水平段中,XRD主要用于地质导向,以确保井筒处于特定的地质层内。
方法 | 描述目标 | 样品制备 |
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台式micro-XRF | 主要元素和微量元素含量达18 μ m | 略粗糙到平坦的表面,标准薄片,钢坯,芯塞,芯板,切割分散底座。 |
XRM / x射线显微镜 | 结构和孔隙度的三维映射 | 岩心、岩屑 |
拉曼显微镜 | 具有拉曼散射现象的分子结构在有机质分析、热成熟度和流体包裹体分析中的应用。 | 标准薄片、岩屑、岩心塞。 |
红外光谱显微镜 | C-H-O官能团包括有机质分析、矿物鉴定和碳氢化合物分析 | 抛光和光滑的表面,薄片,岩心,岩屑 |
扫描电子显微镜(SEM)的EDS | 对孔隙和结构进行微观分析,以详细表征主要元素和一些微量元素 | 抛光和涂层薄片或SEM安装。真空要求。 |
自动化的矿物学 | 结合BSE和EDS对高速大面积矿物图进行表征,表征结构、孔隙度、矿物组合、计算物理性质(杨氏模量),生成锆石LA-ICP-MS靶材 | 抛光和涂层薄片或SEM安装。真空要求。 |
扫描电子显微镜用微xrf | 用100µm x射线点在扫描电子显微镜中提高微量元素的性能,对环境指标如U和Mo尤其重要。 | 抛光和涂层薄片或SEM安装。真空要求。 |
透射电子显微镜(TEM)的EDS分析 | 主要元素和一些微量元素具有最佳分辨率。 | 专门的透射电镜薄片样品制备。 |
Nano-indentation | 台式或sem硬度测试,用于计算杨氏模量和其他物理参数 | 抛光和涂层薄片或SEM安装。真空有时需要。 |
原子力显微镜 | 一种新兴的近原子尺度表面表征工具,可用于识别和表征固体有机物 | 抛光薄片或安装,不需要真空 |
EBSD /跆拳道 | 详细的矿物图和晶体取向研究。 | 高度抛光的薄片和电子透明样品 |
x射线衍射 |
晶体相识别与定量 | 磨粉和平面 |