显微镜下的文化遗产:用先进的扫描电子显微镜元素分析获得精细细节

通过扫描电子显微镜进行高空间分辨率分析是分析工作流程的基本组成部分，对于任何完整的艺术作品和文化遗产的调查都是必不可少的。当研究开始于宏观尺度时，非侵入性技术，如微xrf测图，允许对最小的样本进行扫描电镜分析，具有手术精度，以获得最大的结果。此外，探测器技术的进步使SEM元素表征更快速、灵敏度更高，最大限度地减少对有价值材料的额外损害，同时提供了比以往更容易获得的灵活配置。必威手机客户端

本次网络研讨会将展示使用SEM对文化遗产样本进行微观分析的例子，以说明布鲁克的能力XFlash®探测器范围,包括XFlash^®FlatQUAD环形SDD EDS检测器QUANTAX紧凑用于紧凑型SEM平台的EDS检测器XTrace in-SEM micro-XRF(QUANTAX Micro-XRF)。