显微镜下的文化遗产：通过扫描电子显微镜通过先进的元素分析进行​​细节

通过扫描电子显微镜进行高空间分辨率分析是分析工作流程的基本部分，对艺术作品和文化遗产对象的任何完整调查至关重要。在宏观规模开始的情况下，这种微XRF映射的非侵入性技术允许SEM分析在具有外科精确度以最大化结果的最小样本上进行。此外，探测器技术的进步通过SEM使SEM更快地进行了元素特性，在更高的灵敏度下最小化对宝贵材料的额外损坏，同时提供比以往更可靠的灵活配置。必威手机客户端

该网络研讨会将使用说明Bruker的能力的SEM来提出文化遗产样本的微观分析的例子Xflash®探测器范围， 包括Xflash.^®Batrquad.环形SDD EDS检测器，量子紧凑用于紧凑型SEM平台的EDS检测器，以及XTRACE IN-SEM MICRO-XRF（量子Qual-XRF）。