显微镜下的文化遗产：通过扫描电子显微镜通过高级元素分析获得细节

通过扫描电子显微镜进行的高空间分辨率分析是分析工作流程的基本组成部分，对于艺术作品和文化遗产的任何完整调查都至关重要。当研究从宏观层面开始时，非侵入性技术（如微X射线荧光成像）允许在手术精度下采集的最小样本上进行扫描电镜分析，以最大限度地提高结果。此外，探测器技术的进步使SEM的元素表征更快速，灵敏度更高，最大限度地减少了对有价值材料的额外损害，同时提供了比以往任何时候都更容易接近的灵活配置。必威手机客户端

本次网络研讨会将展示使用SEM对文化遗产样本进行微观分析的示例，以说明Bruker的能力XFlash®探测器范围，包括XFlash^®扁平四边形环形SDD EDS探测器税收协定紧凑型SEM平台的EDS检测器，以及X射线荧光显微扫描电镜（QUANTAX Micro XRF）。