Optimus TKD探测器头
Bruker的高性能EFLASHEBSD.探测器系列现在可以使用Optimus配置™TKD探测器头专门用于SEM中的轴上变速器Kikuchi衍射分析（TKD）的最佳样品检测器几何形状。探测器头不仅可以获得无与伦比的灵敏度的kikuchi模式，但甚至提供了进入的进入（选定的区域电子衍射）类似图案。
定向映射至少2nm空间分辨率
与垂直标准设置相比，样品下方水平荧光屏的位置具有两个主要优点：
- 一个级别更强的信号
- 最低可能的GNOMONIC投影失真
显着更强的信号允许获取具有小孔的方向图，从而能够改善空间分辨率。各种材料的结果表示使用高端FE-SEM必威手机客户端时为2nm的有效空间分辨率为2nm或更高。在低速加速电压下工作，也可以在5 kV下工作。这有助于减少平均自由路径，从而增加kikuchi衍射信号的产量。在分析薄和“轻量级”样本时非常有用。扭曲引起的通过GNOMONIC投影是EBSD中的常见问题，特别是在使用垂直荧光屏时影响TKD分析。
但是，擎天柱™TKD允许将荧光屏中心与图案中心完全匹配，从而使理想的几何条件能够更好地甚至比标准的EBSD几何优惠更好。由此产生的Kikuchi模式具有显着改善的最小扭曲频带检测和随后的索引精度。
armus.™FSE成像系统
擎天柱™TKD配备了armus.™成像系统，使辉煌的黑暗和明亮的场景如将细节到纳米刻度的细节，几乎将SEM转换为“低kV tem”。armus.™可用于显示变形材料中的单独脱位和脱位壁的网络。必威手机客户端像图像一样的暗场显示有关边界平面位置和倾斜的3D信息。
便于使用
每个现有Eflash.探测器可以配有擎天柱™TKD探测器头。通过训练的用户可以在不到10-15分钟内轻松完成交换。这允许在需要时轻松快速地切换EBSD和TKD模式。擎天柱™TKD采用Bruker的先进碰撞保护系统：在不太可能发生碰撞的情况下，探测器立即以10毫米/秒的速度缩回，这显着降低了任何损坏的风险。擎天柱™TKD探测器头无缝地与Bruker的TKD专业工具包用于SEM，包括TKD样品架，Xflash®EDS检测器系列同时TKD / EDS测量和ESPRIT 2分析软件套件。
