OPTIMUS TKD探测器头
Bruker的高性能eFlashEBSD检测器系列现在可以配置OPTIMUS™TKD探测器头是专门为扫描电镜中对轴透射菊池衍射分析(TKD)的最佳样品探测器几何设计的。探测器头不仅获得菊池模式与无与伦比的灵敏度，甚至提供访问SAED(选定区域电子衍射)像图案。
至少具有2纳米空间分辨率的定向映射
与垂直标准设置相比，水平荧光屏在样品下方的位置有两个主要优势:
- 一个数量级的强信号
- 最低可能的日晷投影失真
更强的信号允许获取小孔径的方向图，从而提高空间分辨率。在不同材料上的结果表明，使用高端FE-必威手机客户端SEM时，有效的空间分辨率为2 nm或更好。也可以在低于5千伏的低加速电压下工作。这有助于减小平均自由程，从而提高菊池衍射信号的产率。这在分析薄的和“轻量级”的样品时非常有用。扭曲造成的在EBSD中是一个常见的问题，特别是在使用垂直荧光屏时，会影响TKD分析。
然而,擎天柱™TKD可以精确匹配荧光屏的中心与图案中心，从而实现理想的几何条件，甚至比标准EBSD几何提供的更好。由此产生的菊池图案具有最小的扭曲，这显著改善波段检测和随后的索引精度。
百眼巨人™FSE成像系统
擎天柱™TKD装备有百眼巨人™成像系统可以实现明亮的暗场和亮场成像，其细节可以细化到纳米尺度，实际上可以将您的扫描电子显微镜转化为“低kv透射电子显微镜”。百眼巨人™可以用来显示变形材料中的单个位错和位错壁的网络。必威手机客户端暗场类图像显示了边界平面位置和倾角的三维信息。
易用性
每个现有的eFlash探测器可以安装在擎天柱上™跆拳道探测器。训练有素的用户可以在不到10-15分钟内轻松完成交换。这允许在需要时在EBSD和TKD模式之间轻松快速切换。擎天柱™TKD具有Bruker先进的碰撞保护系统:在不太可能发生的碰撞事件中，探测器立即以10毫米/秒的速度收缩，这大大降低了任何损坏的风险。的擎天柱™TKD检测器头与Bruker的TKD专业工具箱无缝配合，包括TKD样品架，XFlash®EDS检测器系列，用于同时进行TKD/EDS测量和ESPRIT 2分析软件套件。
