OPTIMUS TKD探测器头
布鲁克的高性能eFlashEBSD探测器系列现在可以配置OPTIMUS™TKD探测器头是专门为最佳的样品探测器几何结构设计的，用于扫描电镜的轴上透射菊池衍射分析(TKD)。探测器头不仅获得菊池模式与无与伦比的灵敏度，但甚至提供访问SAED(选定区域电子衍射)类图案。
具有至少2 nm空间分辨率的方向映射
与垂直标准设置相比，水平荧光屏在样品下方的位置有两个主要优点:
- 一个数量级的强信号
- 最大可能的日晷投影失真
显著增强的信号允许获取小孔径方向图，从而提高空间分辨率。对各种材料的研究结果表明，使用高端FE必威手机客户端-SEM可以获得2 nm或更高的有效空间分辨率。工作在低加速电压到5千伏也是可能的。这有助于减小平均自由程，从而提高菊池衍射信号的产率。这在分析薄的和“轻量的”样品时非常有用。扭曲造成的在EBSD中，利用日晷投影是一个常见的问题，在使用垂直荧光屏时尤其影响TKD分析。
然而,擎天柱™TKD允许荧光粉屏幕中心与图案中心精确匹配，从而实现理想的几何条件，甚至比标准的EBSD几何提供的更好。得到的菊池模式具有最小的失真，这大大改善波段检测和随后的分度精度。
百眼巨人™FSE成像系统
擎天柱™TKD装备有百眼巨人™成像系统，可以实现明亮的暗场和亮场成像，细节到纳米尺度，实际上把你的SEM变成一个“低kv TEM”。百眼巨人™可用于显示变形材料中的单个位错和位错壁网络。必威手机客户端类似暗场的图像显示了边界平面位置和倾斜的3D信息。
易用性
每个现有的eFlash探测器可以安装在OPTIMUS上™跆拳道探测器。一个训练有素的用户可以在10-15分钟内轻松完成交换。这允许在任何需要的时候在EBSD和TKD模式之间轻松快速地切换。擎天柱™TKD具有Bruker先进的碰撞保护系统:在不太可能发生的碰撞事件中，探测器立即以10毫米/秒的速度缩回，这大大降低了任何损坏的风险。的擎天柱™TKD探测器头无缝工作与布鲁克的TKD专业工具箱的SEM，包括TKD样品持有人，XFlash®EDS探测器系列同步TKD/EDS测量和esprit2分析软件套件。
