勘探和采矿的双源应用：含金低温热液样品

结合微X射线荧光扫描电镜能够在一个单独的系统内以厘米（cm）到毫米（mm）到微米（µm）及以下的多个尺度分析样品。因此，通过将微XRF添加到SEM中，可以将其转换为双源系统，这意味着有两个激发源，电子束和光子束。这两种光源都可以单独使用，也可以同时使用，以生成将使用相同EDS探测器测量的样品X射线。此外，可以利用每种分析技术的优点：（i）XRF源的背景非常低，这意味着可以观察到低于10 ppm的元素浓度（元素和基质相关），以及更大的信息深度，这意味着可以看到样本表面下方的结构或元素。例如，即使在非常低的浓度下，也可以检测到表面以下的夹杂物；（ii）电子束可以聚焦到非常小的区域并产生非常高的分辨率信息。

这样的组合现在可以在单个系统中创建新的工作流。例如，可以使用微型XRF快速扫描大型岩石样品，在这种情况下，可以扫描来自Karangahake浅成热液矿床的含金spcimen。这使得能够识别包括含金颗粒在内的感兴趣区域（图1和图2）。随后，可以使用电子束以更高的分辨率分析这些“感兴趣的区域”（图3）。因此，这种双光束系统可以同时识别大尺度（厘米到毫米）上的相关信息，从而能够高效准确地执行详细的小尺度（毫米到微米）。