勘探与采矿双源应用:含金低温热液样品

的结合用扫描电镜micro-XRF能够在单个系统中分析多个尺度的样品，从厘米(cm)到毫米(mm)到微米(μ m)及以下。因此，通过将微xrf添加到SEM中，就转换成一个双源系统，这意味着有两个激励源，电子束和光子束。这两个源可以单独使用，也可以同时使用，以产生样品x射线，然后使用相同的EDS探测器进行测量。此外，每种分析技术的好处可以利用:(i) XRF源的背景非常低，这意味着可以观察到10 ppm以下的元素浓度(取决于元素和基质)，以及更大的信息深度，这意味着可以看到样品表面下的结构或元素。例如，即使在很低的浓度下，也可以检测到表面以下的包裹体;(ii)电子束可以聚焦到一个非常小的区域，并产生非常高分辨率的信息。

这样的组合现在可以在单个系统中创建新的工作流。例如，使用微x射线荧光显微镜可以快速扫描一个大的岩石样品，在这个例子中是一个来自Karangahake浅成热液矿床的含金样品。这使得识别包括含金晶粒的感兴趣区域成为可能(图1和2)。随后，可以使用电子束以更高的分辨率分析这些“感兴趣区域”(图3)。因此，该双光束系统可以同时识别大尺度(cm - mm)的相关信息，从而可以高效、准确地进行小尺度(mm -µm)的详细信息识别。