探索和采矿的双源应用：含有Au的表现样品

组合Micro-XRF带有SEM使潜力可以分析从厘米（CM）到毫米（MM）到微米（µM）及以下单独系统中的多个尺度的样品。因此，通过将Micro-XRF添加到SEM中，将转换为双源系统，这意味着有两个激发源，即电子束和光子束。可以单独或同时使用源来生成将使用相同EDS检测器测量的样品X射线。此外，可以利用每种分析技术的好处：（i）XRF源的背景非常低，这意味着可以观察到元素浓度降低至10 ppm（元素和矩阵依赖性），并且更大得多信息深度，这意味着可以看到样品表面下方的结构或元素。例如，即使在非常低的浓度下，也可以检测到表面以下的夹杂物。（ii）电子束可以集中在极小的面积上，并产生极高的分辨率信息。

现在，这种组合可以在单个系统中创建新的工作流程。例如，可以使用Micro-XRF快速扫描大型岩石样品，在这种情况下，来自Karangahake上皮沉积物的含有Au的Spcimen。这可以识别包括含有Au的晶粒的感兴趣区域（图1和2）。随后，可以使用电子束以更高的分辨率分析这些“感兴趣的领域”（图3）。因此，该双光束系统可以同时识别大规模（CM至mm）以实现详细的小规模（mm至µm）的相关信息。