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力量的独特XFlash®FlatQUAD具有高达1.1 sr的超高立体角的能谱检测器,可同时使用OPTIMUS 2用于从空间分辨率和速度不匹配的电子透明样品中获取包含化学和晶体方向数据的地图。
使用电子透明样品设计的方法可以进行精确的EDS定量分析:
结合EDS和TKD测量是描述含有多种晶体相的鲜为人知的样品的理想方法,例如沉淀和/或夹杂物。该组合数据集可用于离线相位识别和再分析,具有很高的效率增益精灵2的索引能力高达60000模式/秒。