在SEM中使用独特的轴上探测器同时获取晶体和元素信息
最快的同步TKD和EDS测量
力量的独特XFlash®FlatQUAD具有高达1.1 sr的超高立体角的能谱检测器，可同时使用OPTIMUS 2用于从空间分辨率和速度不匹配的电子透明样品中获取包含化学和晶体方向数据的地图。
使用电子透明样品设计的方法可以进行精确的EDS定量分析:
- Cliff-Lorimer-factor方法
- Zeta-factor-method
结合EDS和TKD测量是描述含有多种晶体相的鲜为人知的样品的理想方法，例如沉淀和/或夹杂物。该组合数据集可用于离线相位识别和再分析，具有很高的效率增益精灵2的索引能力高达60000模式/秒。
使用XFlash FlatQUAD EDS检测器(上)、OPTIMUS 2检测器头(下)和TKD样品夹(中)实现同步轴上TKD和EDS测图
XFlash FlatQUAD EDS检测器，它的四个SDD芯片布局和直方图显示其立体角随SDD芯片与样品之间的距离变化
从氧化分散强化(ODS)钢样品中获得的bf类图像显示了铁素体晶粒基体中的氧化钛颗粒(亮灰色)和富钇氧化钛颗粒(深灰色)。采用5 nA探针电流和20 kV加速电压，在3 s内获得图像。
Pattern Quality Map以272点/秒的速度表示与EDS超Map同时获取的TKD Map。该测量的吞吐量计数率为~1 Mcps。
显示Ti分布的EDS超图(归一化原子%)
显示Y分布的EDS超映射(标准化质量%)
最终的相图(TKD结果)经过离线的相ID和再分析。铁氧体基体用红色表示，氧化钛颗粒用绿色表示，富钇氧化钛颗粒用蓝色表示。
各相的取向分布图(IPFz)和相应的着色方案