使用独特的轴检测器同时在SEM中进行晶体和元素信息
最快的同时TKD和EDS测量
布鲁克独特的Xflash.®Batrquad.EDS检测器可同时使用高达1.1 SR的超高直角Optimus 2.用于从电子透明样品中获取含有化学和分别晶体取向数据的地图，具有无与伦比的空间分辨率和速度。
可以使用专为电子透明样品设计的方法进行准确的定量EDS分析：
- 悬崖 - 储层系列方法
- Zeta系数方法
组合EDS和TKD测量是表征含有多个晶体相的较小已知样品的理想选择，例如，沉淀和/或夹杂物。组合的数据集可用于离线相位识别和重新分析，并启用了较高的效率提升Esprit 2索引高达60,000模式/秒的能力。
使用XFlash Fallquad EDS检测器（顶部），Optimus 2检测器头（底部）和TKD样品架（中间）同时沿轴TKD和EDS映射的检测器样品几何图形和EDS映射。
Xflash Fantquad EDS检测器具有四个SDD芯片布局和直方图，显示其具有SDD芯片和样本之间的距离的实体角度变化
从氧化物分散体（ODS）钢样品中获取的BF样图像，其显示在铁氧体晶粒基质中的氧化钛颗粒（明亮灰色）和富含钇的钛氧化物颗粒（深灰色）。使用5 NA探头电流和20kV加速电压在3秒内获得图像。
图案质量图表示TKD地图的表示同时与EDS超图以272分/秒的速度获取。该测量的吞吐量计数为〜1 mcps。
EDS HyperMap显示Ti分布（归一化原子％）
EDS HyperMap显示Y分布（归一化质量％）
离线相位ID和再分析后的最终相位分布图（TKD结果）。铁氧体基质以红色示出，氧化钛颗粒以绿色和富钇钛氧化物颗粒示出为蓝色。
定向分布图（IPFZ）和每个晶体相的相应着色方案