岩石学，地球化学和岩石表征
岩石学特征
岩石学特征
Bruker分析工具允许在厘米到亚微米鳞片的地质材料表征。必威手机客户端从独立仪器到探测器进行扫描电子显微镜，对样品中的矿物学，纹理和地球化学分布的基本理解从未如此强大。
矿物和结构表征
矿物和结构表征
准确的识别和表征岩石内矿物质的空间分布提供了岩层基础过程的基础。根据任务，手头样品，单粒和亚粒度尺度可能需要表征，并且需要将矿物化学与纹理关系相关联。BRUKER产品通过以下产品横跨这些尺度和数据需求：
M4龙卷风和M4龙卷风加允许快速测绘最低限度制备的样品，允许测定固体和颗粒样品中的矿物种类和结构分布，矿物化学测量到PPM水平
QUANTAX用于扫描电子显微镜的探测器，包括eds.，改进算法和EBSD提供亚微米尺度的任何固体样品的全面结构和成分数据
氨的用于扫描电子显微镜和微XRF的自动矿物学解决方案，在地球科学和地质工程中驾驶快速矿物质识别和表征广泛应用
- SKYSCAN 1275和SKYSCAN 1273X射线显微镜使固体和粒状样品中的3D矿物分布的可视化和定量能够进行可视化和定量
空间解决地球化学
基于微xrf的手样尺度空间分辨地球化学研究
在岩石中的主要，次要和微量元素的可视化支持我们对许多地质过程的理解。通常限制在薄截面或以下规模，在较大样本中的地球化学分区的快速表征提供了进一步调查的额外背景，允许其他分析方法的更强的子采样决策，并且可能减少由更昂贵分析的样品总数减少技术。允许地球化学可视化的布鲁克产品包括：
M4龙卷风Micro-XRF提供大型样品的地球化学映射和检测到PPM的10分，导致任何固体样本中的地球化学分布的准确表征，并通过地图数据集成了散装地球化学的量化。
M4龙卷风加是一种针对增强光电元件检测优化的微XRF，具有大区域光元件SDD检测器和用于真空和HE气氛的分析能力，使元件检测到C.
XTrace-Quantax.微xrf，它升级了扫描电子显微镜，允许在同一仪器上进行微量元素分析。与Rapid Stage(一种直接安装在标准SEM Stage上的模块化压电系统)结合使用XTrace可以实现高速映射。
Bulk-rock地球化学
用ED-XRF和WD-XRF研究大块岩石地球化学
全岩地球化学是研究地质过程的一个组成部分，其中准确的主要，轻微和微量元素化学是必须的。Bruker提供全系列的能量分散和波分散XRF解决方案，适合每个应用和分析需求。
示踪剂手持式XRF和CTX便携式Benchtop ED-XRF仪器在经济实惠的预算提供便携式和紧凑的解决方案，同时不会妥协于性能
S2彪马高容量台式ED-XRF单元可以分析从C到Am，样品更换系统最多可容纳20个样品
S6 Jaguar.紧凑的WD-XRF以紧凑的格式提供高性能散装地球化学性能，而S8虎顺序WD-XRF允许在一次运行中分析主要和跟踪元素。
Petrochronology
Petrochronology
振动光谱学
振动光谱学
microRAMAN光谱学
矿物结构和组成的点分析和绘图，区分多态性或化学相似但结构不同的矿物，光谱参考库允许快速和常规表征和OPUS™软件优化光谱匹配。
傅立叶变换红外光谱
分子尺度上的化学结构，仅元素数据是不够的，包括有机质表征、韵律和渗透性研究、玻璃、流体和熔体夹杂物的分析。
