Bruker分析工具允许以厘米为单位的地质材料表征到亚微米尺度。必威手机客户端从独立仪器到用于扫描电子显微镜的检测器,对样品中对矿物学,纹理和地球化学分布的基本了解从未如此强大。
岩石中矿物质的空间分布的准确鉴定和表征为理解岩石形成的基本过程提供了基础。根据任务,可能需要在手工样本,单粒和亚颗粒量表上进行表征,并且需要将矿物化学与纹理关系相关联。Bruker产品交叉这些量表和数据需求与诸如:
M4龙卷风和M4龙卷风加允许快速映射最小制备的样品,以确定矿物质物种和固体和颗粒样品中的质地分布,并测量矿物化学水平至PPM水平
QUANTAX扫描电子显微镜的检测器,包括eds,WDS和EBSD, providing comprehensive structural and compositional data on any solid sample to sub-micron scales
AMICS用于扫描电子显微镜和微XRF的自动矿物学解决方案,驱动了地球科学和地质工程中广泛应用的快速矿物识别和表征
D2移动器,D8 DISCOVER和D8 ADVANCErange of X-ray Diffraction solutions covering all applications and needs from compact, benchtop instruments to high-resolution single-crystal characterization.
岩石中主要,次要和微量元素的可视化基础是我们对许多地质过程的理解。通常局限于薄部分或以下的规模,在较大样品中的地球化学分区的快速表征为进一步研究提供了更多背景,从而为其他分析方法提供了更健壮的子采样决策,并有可能减少更昂贵的样品总数技术。允许地球化学可视化的布鲁克产品包括:
M4龙卷风Micro-XRF提供了大型样品的地球化学映射并将其检测到PPM的10,从而准确地表征了任何固体样品中的地球化学分布,并通过整合地图数据来定量批量地球化学。
M4龙卷风加是一种优化的微XRF,可增强光元素检测,具有大面积光元件SDD检测器和在真空和HE气氛下进行分析的能力,从而使元素检测到C。
Xtrace -QuantaxMicro-XRF,升级SEM以允许在同一仪器上进行跟踪元素分析。当与快速阶段(一种基于模块化的压电系统)结合使用时,可以使用Xtrace进行高速映射,直接安装在标准的SEM阶段上。
我们对地质过程的理解的进步表明,了解岩石中可数据矿物质的质地背景的必要性和收益。通常,用于地年代学的矿物是配件 - 细粒度和低丰度 - 导致大量精力和资源在薄层或矿物分离中定位。Micro-XRF和基于SEM的自动化矿物学解决方案可以加快此过程,并正确识别矿物质并将其置于其质地矿物学环境中。
Point analysis and mapping of mineral structure and composition, discriminating polymorphs or chemically similar but structurally different minerals, with spectral reference libraries allowing rapid and routine characterization and OPUS™ software optimizing spectral matching.
Chemical structure at the molecular scale where elemental data alone is insufficient, including organic matter characterization, prosody and permeability studies, analysis of glasses, fluid and melt inclusions.