学术地球科学研究

Petrology, Geochemistry and Rock Characterization

Understanding the processes that form and transform rocks are foundational to the geological sciences. Bruker’s analytical tools empower the study of minerals, textures and spatially-resolved geochemistry from the hand sample to the sub-grain scale.

岩石学表征

岩石学表征

Bruker分析工具允许以厘米为单位的地质材料表征到亚微米尺度。必威手机客户端从独立仪器到用于扫描电子显微镜的检测器,对样品中对矿物学,纹理和地球化学分布的基本了解从未如此强大。

Mineral & Textural Characterization

Mineral & Textural Characterization

石榴石 - 米卡片岩的友善矿物图

岩石中矿物质的空间分布的准确鉴定和表征为理解岩石形成的基本过程提供了基础。根据任务,可能需要在手工样本,单粒和亚颗粒量表上进行表征,并且需要将矿物化学与纹理关系相关联。Bruker产品交叉这些量表和数据需求与诸如:

  • M4龙卷风M4龙卷风允许快速映射最小制备的样品,以确定矿物质物种和固体和颗粒样品中的质地分布,并测量矿物化学水平至PPM水平

  • QUANTAX扫描电子显微镜的检测器,包括eds,WDSEBSD, providing comprehensive structural and compositional data on any solid sample to sub-micron scales

  • AMICS用于扫描电子显微镜和微XRF的自动矿物学解决方案,驱动了地球科学和地质工程中广泛应用的快速矿物识别和表征

  • D2移动器,D8 DISCOVERD8 ADVANCErange of X-ray Diffraction solutions covering all applications and needs from compact, benchtop instruments to high-resolution single-crystal characterization.

  • SKYSCAN 1275SKYSCAN 1273X射线显微镜可以可视化和定量3D矿物分布在固体和颗粒样品中

Spatially Resolved Geochemistry

通过Micro-XRF在手样本量表上的空间分辨地球化学

M4龙卷风µXRF map of a c. 3.0 Ga stromatolite; field of view is 60 cm across

岩石中主要,次要和微量元素的可视化基础是我们对许多地质过程的理解。通常局限于薄部分或以下的规模,在较大样品中的地球化学分区的快速表征为进一步研究提供了更多背景,从而为其他分析方法提供了更健壮的子采样决策,并有可能减少更昂贵的样品总数技术。允许地球化学可视化的布鲁克产品包括:

  • M4龙卷风Micro-XRF提供了大型样品的地球化学映射并将其检测到PPM的10,从而准确地表征了任何固体样品中的地球化学分布,并通过整合地图数据来定量批量地球化学。

  • M4龙卷风是一种优化的微XRF,可增强光元素检测,具有大面积光元件SDD检测器和在真空和HE气氛下进行分析的能力,从而使元素检测到C。

  • Xtrace -QuantaxMicro-XRF,升级SEM以允许在同一仪器上进行跟踪元素分析。当与快速阶段(一种基于模块化的压电系统)结合使用时,可以使用Xtrace进行高速映射,直接安装在标准的SEM阶段上。

散装岩石地球化学

ED-XRF和WD-XRF的散装岩石地球化学

全岩地球化学是对地质过程研究的组成部分,在该过程中,必须进行精确的主要,次要和微量元素化学。Bruker提供了适合每种应用和分析需求的全范围的能量分散和波色散XRF解决方案。

  • TRACERHandheld-XRF和CTX便携式台式ED-XRF仪器提供便携式和紧凑的解决方案,但不损害性能

  • S2 PUMA高容量台式ED-XRF单元可以从C到AM分析,示例更换系统可容纳多达20个样品

  • S6美洲虎紧凑的WD-XRF以紧凑的格式提供高性能的大量地球化学性能,而S8老虎顺序WD-XRF允许单个运行中的主要和跟踪元素分析。

Petrochronology

Petrochronology

BSE底层上附件矿物的友好图像

我们对地质过程的理解的进步表明,了解岩石中可数据矿物质的质地背景的必要性和收益。通常,用于地年代学的矿物是配件 - 细粒度和低丰度 - 导致大量精力和资源在薄层或矿物分离中定位。Micro-XRF和基于SEM的自动化矿物学解决方案可以加快此过程,并正确识别矿物质并将其置于其质地矿物学环境中。

  • M4龙卷风Micro-XRF允许对大型样品进行地球化学映射,从地球化学代理或直接应用Bruker的Amics自动化矿物学解决方案来提供矿物质分布

  • AMICSfor scanning electron microscopes provides automated mineralogical mapping of thin sections and polished grain mounts, with focused detection of key minerals and compositional quantification for robust classification

振动光谱法

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微曼光谱学

Point analysis and mapping of mineral structure and composition, discriminating polymorphs or chemically similar but structurally different minerals, with spectral reference libraries allowing rapid and routine characterization and OPUS™ software optimizing spectral matching.

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Chemical structure at the molecular scale where elemental data alone is insufficient, including organic matter characterization, prosody and permeability studies, analysis of glasses, fluid and melt inclusions.

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