岩石学，地球化学和岩石特征
了解形成和转化岩石的过程是地质科学的基础。布鲁克（Bruker）的分析工具赋予对矿物，纹理和空间分辨地球化学的研究，从手样品到亚细质量。
岩石学表征
岩石学表征
Bruker分析工具允许以厘米为单位的地质材料表征到亚微米尺度。必威手机客户端从独立仪器到用于扫描电子显微镜的检测器，对样品中对矿物学，纹理和地球化学分布的基本了解从未如此强大。
矿物质和纹理表征
矿物质和纹理表征
石榴石 - 米卡片岩的友善矿物图
岩石中矿物质的空间分布的准确鉴定和表征为理解岩石形成的基本过程提供了基础。根据任务，可能需要在手工样本，单粒和亚颗粒量表上进行表征，并且需要将矿物化学与纹理关系相关联。Bruker产品交叉这些量表和数据需求与诸如：
空间解决的地球化学
通过Micro-XRF在手样本量表上的空间分辨地球化学
M4龙卷风µXRF图。3.0 Ga正聚石;视场遍布60厘米
岩石中主要，次要和微量元素的可视化基础是我们对许多地质过程的理解。通常局限于薄部分或以下的规模，在较大样品中的地球化学分区的快速表征为进一步研究提供了更多背景，从而为其他分析方法提供了更健壮的子采样决策，并有可能减少更昂贵的样品总数技术。允许地球化学可视化的布鲁克产品包括：
M4龙卷风Micro-XRF提供了大型样品的地球化学映射并将其检测到PPM的10，从而准确地表征了任何固体样品中的地球化学分布，并通过整合地图数据来定量批量地球化学。
M4龙卷风加是一种优化的微XRF，可增强光元素检测，具有大面积光元件SDD检测器和在真空和HE气氛下进行分析的能力，从而使元素检测到C。
Xtrace -QuantaxMicro-XRF，升级SEM以允许在同一仪器上进行跟踪元素分析。当与快速阶段（一种基于模块化的压电系统）结合使用时，可以使用Xtrace进行高速映射，直接安装在标准的SEM阶段上。
石化学
振动光谱法
振动光谱法
微曼光谱学
矿物结构和成分的点分析和映射，区分多晶型物或化学相似但结构上不同的矿物质，光谱参考文献允许快速和常规的表征以及Opus™软件优化光谱匹配。
FT-IR光谱法
在分子尺度上的化学结构，仅元素数据不足，包括有机物表征，韵律和渗透率研究，镜头分析，流体和熔体夹杂物。
