Bruker分析工具允许在厘米到亚微米尺度上对地质材料进行表征。从独立仪器到扫描电子显微镜检测器,对样品中矿物学、结构必威手机客户端和地球化学分布的基本理解从未如此强大。
岩石中矿物空间分布的准确识别和表征为理解岩石形成的基本过程提供了基础。根据任务的不同,可能需要在手样、单颗粒和亚颗粒尺度上进行表征,并需要将矿物化学与结构关系关联起来。Bruker产品通过以下产品满足这些规模和数据需求:
岩石中主要、次要和微量元素的可视化是我们理解许多地质过程的基础。通常仅限于薄片或以下规模,大样本中地球化学分带的快速表征为进一步调查提供了额外的背景,允许对其他分析方法进行更稳健的次采样决策,并可能减少使用更昂贵技术分析的样本总数。允许地球化学可视化的Bruker产品包括:
M4龙卷风micro XRF可提供大样本的地球化学制图和低至10 ppm的检测,从而准确描述任何固体样本中的地球化学分布,并通过整合地图数据对整体地球化学进行量化。
M4龙卷风加是一种微型XRF,针对增强的轻元素检测进行了优化,具有大面积轻元素SDD探测器,能够在真空和He气氛下进行分析,允许元素检测低至C。
XTrace–QUANTAXmicro XRF,它升级了扫描电镜,允许在同一仪器上进行微量元素分析。当与Rapid Stage(一种直接安装在标准SEM工作台上的基于模块化压电元件的系统)相结合时,使用XTrace进行高速绘图是可能的。
矿物结构和成分的点分析和绘图,区分多晶型或化学相似但结构不同的矿物,光谱参考库允许快速和常规表征和OPU™ 软件优化光谱匹配。
分子尺度上的化学结构,仅元素数据是不够的,包括有机物表征、韵律和渗透性研究、玻璃、流体和熔体包裹体分析。