学术地球科学研究

岩石学、地球化学和岩石特征

理解形成和转化岩石的过程是地质科学的基础。Bruker的分析工具使矿物、结构和空间解析地球化学的研究从手工样品到亚粒度尺度都得到了支持。

岩石学特征

岩石学特征

Bruker分析工具允许在厘米到亚微米尺度上对地质材料进行表征。从独立仪器到扫描电子显微镜检测器,对样品中矿物学、结构必威手机客户端和地球化学分布的基本理解从未如此强大。

矿物与结构表征

矿物与结构表征

石榴石云母片岩的AMICS矿物图

岩石中矿物空间分布的准确识别和表征为理解岩石形成的基本过程提供了基础。根据任务的不同,可能需要在手样、单颗粒和亚颗粒尺度上进行表征,并需要将矿物化学与结构关系关联起来。Bruker产品通过以下产品满足这些规模和数据需求:

  • M4龙卷风M4龙卷风允许快速绘制最小制备样品的地图,以确定固体和颗粒样品中的矿物种类和结构分布,并将矿物化学测量至ppm水平

  • 全税扫描电子显微镜用探测器,包括EDS,单词EBSD,提供亚微米级固体样品的全面结构和成分数据

  • 友人用于扫描电子显微镜和微型XRF的自动化矿物学解决方案,推动快速矿物识别和表征在地球科学和地质工程中的广泛应用

  • D2移相器,D8发现D8预付款一系列X射线衍射解决方案,涵盖从小型台式仪器到高分辨率单晶表征的所有应用和需求。

  • 天空扫描1275天空扫描1273X射线显微镜可实现固体和颗粒样品中三维矿物分布的可视化和量化

空间分辨地球化学

微X射线荧光光谱在手样尺度上的空间分辨地球化学

M4龙卷风µX射线荧光图。3.0ga叠层石;视野为60厘米宽

岩石中主要、次要和微量元素的可视化是我们理解许多地质过程的基础。通常仅限于薄片或以下规模,大样本中地球化学分带的快速表征为进一步调查提供了额外的背景,允许对其他分析方法进行更稳健的次采样决策,并可能减少使用更昂贵技术分析的样本总数。允许地球化学可视化的Bruker产品包括:

  • M4龙卷风micro XRF可提供大样本的地球化学制图和低至10 ppm的检测,从而准确描述任何固体样本中的地球化学分布,并通过整合地图数据对整体地球化学进行量化。

  • M4龙卷风是一种微型XRF,针对增强的轻元素检测进行了优化,具有大面积轻元素SDD探测器,能够在真空和He气氛下进行分析,允许元素检测低至C。

  • XTrace–QUANTAXmicro XRF,它升级了扫描电镜,允许在同一仪器上进行微量元素分析。当与Rapid Stage(一种直接安装在标准SEM工作台上的基于模块化压电元件的系统)相结合时,使用XTrace进行高速绘图是可能的。

块体岩石地球化学

用ED-XRF和WD-XRF研究块体岩石地球化学

全岩地球化学是地质过程研究的一个组成部分,其中必须有准确的主、次和微量元素化学。Bruker提供全方位的能量色散和波色散XRF解决方案,适合各种应用和分析需求。

  • 示踪剂手持式XRF和CTX便携式台式ED-XRF仪器以可承受的预算提供便携式和紧凑型解决方案,同时不影响性能

  • S2美洲狮高容量台式ED-XRF装置可从C到Am进行分析,样品转换器系统最多可容纳20个样品

  • S6捷豹compact WD-XRF以紧凑的格式提供高性能的批量地球化学性能,而S8老虎顺序WD-XRF允许在一次运行中进行主要和微量元素分析。

岩石年代学

岩石年代学

BSE衬底上辅助矿物的AMICS图像

我们对地质过程的理解进展表明,了解岩石中可测年矿物的结构背景是必要的,并从中获得益处。通常用于地质年代学的矿物都是附件——细粒度和低丰度——这导致在薄片或矿物分离中定位这些矿物需要花费大量精力和资源。基于Micro XRF和SEM的自动化矿物学解决方案可以加快这一过程,正确识别矿物并将其置于纹理矿物学环境中。

  • M4龙卷风micro XRF允许通过地球化学代理或直接应用Bruker的AMICS自动化矿物学解决方案,对提供矿物分布的大样本进行地球化学制图

  • 友人例如,扫描电子显微镜提供薄片和抛光颗粒的自动矿物学绘图,重点检测关键矿物和成分量化,以实现稳健分类

振动光谱

振动光谱

显微拉曼光谱

矿物结构和成分的点分析和绘图,区分多晶型或化学相似但结构不同的矿物,光谱参考库允许快速和常规表征和OPU™ 软件优化光谱匹配。

红外光谱

分子尺度上的化学结构,仅元素数据是不够的,包括有机物表征、韵律和渗透性研究、玻璃、流体和熔体包裹体分析。

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