学术地球科学研究

岩石学、地球化学和岩石表征

了解岩石的形成和转化过程是地质科学的基础。Bruker的分析工具可以研究从手样到亚粒级的矿物、纹理和空间解析地球化学。

岩化性表征

岩化性表征

Bruker分析工具允许在厘米到亚微米鳞片的地质材料表征。必威手机客户端从独立仪器到探测器进行扫描电子显微镜,对样品中的矿物学,纹理和地球化学分布的基本理解从未如此强大。

矿物和结构表征

矿物和结构表征

Amics Garnet-MICA SCIST的矿物地图

准确的识别和表征岩石内矿物质的空间分布提供了岩层基础过程的基础。根据任务,手头样品,单粒和亚粒度尺度可能需要表征,并且需要将矿物化学与纹理关系相关联。BRUKER产品通过以下产品横跨这些尺度和数据需求:

  • M4龙卷风M4龙卷风允许快速映射最小制备的样品,允许确定固体和粒状样品中的矿物质和纹理分布,矿物化学测量到PPM水平

  • QUANTAX用于扫描电子显微镜的探测器,包括eds.改进算法EBSD.,提供全面的结构和组成数据的任何固体样品亚微米尺度

  • 氨的用于扫描电子显微镜和微XRF的自动矿物学解决方案,在地球科学和地质工程中驾驶快速矿物质识别和表征广泛应用

  • D2相投D8发现D8提前x射线衍射解决方案范围涵盖所有应用和需求,从紧凑的台式仪器到高分辨率的单晶表征。

  • SKYSCAN 1275SKYSCAN 1273X射线显微镜使固体和粒状样品中的3D矿物分布的可视化和定量能够进行可视化和定量

空间解决地球化学

通过Micro-XRF在手动样本中的空间解决地球化学

c. 3.0 Ga叠层石的M4 TORNADOµx射线荧光光谱图;视野是60厘米宽

在岩石中的主要,次要和微量元素的可视化支持我们对许多地质过程的理解。通常限制在薄截面或以下规模,在较大样本中的地球化学分区的快速表征提供了进一步调查的额外背景,允许其他分析方法的更强的子采样决策,并且可能减少由更昂贵分析的样品总数减少技术。允许地球化学可视化的布鲁克产品包括:

  • M4龙卷风Micro-XRF提供大型样品的地球化学映射和检测到PPM的10分,导致任何固体样本中的地球化学分布的准确表征,并通过地图数据集成了散装地球化学的量化。

  • M4龙卷风是一种针对增强光电元件检测优化的微XRF,具有大区域光元件SDD检测器和用于真空和HE气氛的分析能力,使元件检测到C.

  • XTrace-Quantax.Micro-XRF,升级SEM以允许在同一仪器上进行跟踪元素分析。使用XTrace的高速映射是可能的,当加上快速级时,可以直接安装在标准SEM阶段的模块化压电基础上。

散装岩石地球化学

ED-XRF和WD-XRF的Bulk-Rock Geochemistry

全岩地球化学是研究地质过程的一个组成部分,其中准确的主要,轻微和微量元素化学是必须的。Bruker提供全系列的能量分散和波分散XRF解决方案,适合每个应用和分析需求。

  • 示踪剂手持式XRF和CTX便携式Benchtop ED-XRF仪器在经济实惠的预算提供便携式和紧凑的解决方案,同时不会妥协于性能

  • S2彪马高容量Benchtop ED-XRF单位可以从C到AM分析,采用样品换动器系统,最多20个样品

  • S6 Jaguar.紧凑的WD-XRF以紧凑的格式提供高性能散装地球化学性能,而S8虎顺序WD-XRF允许在一次运行中分析主要和跟踪元素。

Petrochronology

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BSE底层附件矿物质的AMICS图像

我们对地质过程的理解的进步已经证明了从知识岩石中可调矿物质的纹理背景来源的需求和益处。通常用于地形学的矿物质是配件 - 细粒度和低丰度 - 导致大量努力和资源在薄段或矿物分离中定位它们。Micro-XRF和SEM基自动化矿物学解决方案可以加快这个过程,正确地识别矿物质,并将它们放在纹理矿物学背景下。

  • M4龙卷风Micro-XRF允许通过地球化学代理或通过应用Bruker的AMICS自动化矿物学解决方案直接提供矿物分布的大型样品的地球化学映射

  • 氨的扫描电子显微镜提供了薄片和抛光颗粒支架的自动化矿物学制图,并对关键矿物和成分进行了集中检测,以便进行稳健分类

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microRAMAN光谱学

矿物结构和组成的点分析和映射,鉴别多态性或化学相似但结构不同的矿物,光谱参考库允许快速和常规的表征和OPUS™软件优化光谱匹配。

傅立叶变换红外光谱

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